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一种基于OTDR技术的插回损测试仪

 
日期:2015-09-15       大小:0.86M    
与传统连续波(CW)测量方法相比,基于OTDR技术的回波损耗测试方法,能够准确定位反射事件,测量结果直观、准确,在一定条件下还能够一次测量多个器件以及实现免缠绕测试。介绍了基于OTDR技术的回波损耗测量原理,设计了一种基于OTDR技术的回波损耗测量和插入损耗测量一体化测试仪。
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