第五届中国测试学术会议将于5月21日至23日在苏州国际科技园举行。会议将围绕“加强学术界与工业界交流，促进测试技术发展”的主题，邀请国际、国内顶级专家汇聚苏州国际科技园，围绕IC测试、设计验证、电路测试、工程测试和生产测试等议题举办专业技术报告，开展高层次的学术交流。
中国测试学术会议(China Test Conference)是由中国计算机学会举办的专业学术会议，会议范围包括，器件、电路板、系统的电子测试；硬/软件的设计验证、测试、诊断、失效分析；可信计算和信息安全。自2000年起，每两年召开一次(逢双年。
苏州是中国半导体产业的重镇，特别是苏州工业园区，经过十多年的发展，已经形成了IC设计、晶元制造、封装测试等完整的产业链，目前以占全国十万分之三的土地，创造了全国约16%的集成电路产业产值，仅次于上海。目前，苏州国际科技园已集聚了德国英飞凌、韩国三星半导体等30多家IC设计企业入驻，占苏州IC设计企业90%。成为长三角IC设计领域的研发高地。
此次代表中国测试行业最高水准的学术会议放在苏州举行，表明了苏州的IC学术水平正在得到全国的重视。本届测试大会的筹办方苏州中科集成电路设计中心，成立于2003年8月8日，曾为龙芯一号CPU完成了集成电路物理设计，并与梦兰集团共同发起成立了龙芯产业化基地。如今，中心已成为长三角地区水平最高的IC设计平台之一。
据悉，本次大会为期3天，参会的200多位专家学者来自中国科学院、清华大学、南京大学、东南大学等国内外著名高校以及研究院所。
