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美国国家标准与技术局开发出太赫兹薄膜测量技术
目前制造商们通过X-ray光谱仪和原子力显微镜来测定金属氧化物薄膜的结构。研究人员发现,还可以通过测量这些半导体薄膜的太赫兹吸收特性来精确探索它...
标准,NIST,测量,红外,光谱
2009-05-21
开展计量技术共享+国际计量合作=促进全球经济增长
NIST,
NIM,
福禄克
2005-08-31
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