射频​集成​电路​(RFIC)​测试

功率放大器(PA) – 作为分立元件或集成前端模块(FEM)的一部分 – 是现代无线电中最完整的RF集成电路(RFIC)之一。 本系列教程由两部分组成,通过交互式白皮书以及多个演示视频,介绍了RF PA和FEM

系列1:功率放大器和前端模块测量的基础知识
系列2:在数字预失真和动态电源条件下测试PA

测试系统构建完整指南

测试策略对于降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率至关重要。阅读测试执行维护、软硬件抽象层、热分析和开关等方面的最佳实践,确保您掌握构建更智能测试系统所需的基础知识,以便满足当今和未来的各种需求。通过本完整指南,了解从头到尾构建完整测试系统的推荐过程。... >> >立即下载完整指南

2017自动化测试趋势展望

《自动化测试趋势展望》全面介绍了影响测试和测量行业的关键技术和方法。 测试工程师和管理人员所面临的重大挑战之一是保持处于测试发展趋势的前沿。NI联合创始人Dr. James Truchard回顾了过去40年测试测量行业的发展, 并指出了至今仍影响当今测试组织的市场和技术趋势,同时对未来进行了展望。... >> 立即下载

NI SMU - 电性能测试的最佳选择

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。... >> 进入了解详情

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NIDays全球图形化系统设计盛会 PXI TAC智能测试时代,智领未来

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