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编程/测控软件
影响偏振相关损耗PDL测量的重要因素
日期:2015-08-17 大小:0.37M
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偏振相关损耗 (PDL) 的测量对测量系统中的扰动极其敏感,这些扰动包括光源的不稳定性,连接器的反射,甚至是测试光纤的布局。如果测试装置布置不合理,即使采用高精度的测量设备也可能会出现较大的测量误差或波动。
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