科利登为威盛安装失效分析实验室

   日期:2005-11-07     来源:中国测控网信息中心    评论:0    
为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商--科利登系统有限公司日前宣布威盛电子股份有限公司(VIA Technologies, Inc.)成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计,调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。

科利登可用于65nm技术的完备实验室解决方案包括了电子发射显微系统,具有时间精度的发射技术,激光扫描显微系统以及电路编辑。它还拥有方便高效的软件工具,能把所有的失效分析和设计调试的硬件单元集成起来。该解决方案通过提高整体的产品质量,能为半导体产品的良率提升和可靠性分析提供很高的投资回报率。它能增加首次流片的成功概率,加速产品上市时间,加快关键缺陷的失效分析,从而减少产品开发及掩模板时故障隔离的成本。同时,它也能在芯片设计和生产之间的灰色区域进行有效的特征分析。

威盛电子MPE部门的副总裁Shelton Lu说.:“威盛准确把握新技术的市场动向,并将它融入到我们的芯片产品和各种核心逻辑芯片组里面,从而能持续保持它在业界领先地位。因为只需与同一个公司合作,所以我们能够在整个设计和调试流程中最好地利用科利登的技术和专业优势。当今业界没有其它任何公司能像科利登一样提供一整套完备的先进实验室解决方案,涵盖了那些所必需的先进调试工具,同时又保护了fabless和foundry之间的那些临界知识产权。科利登的解决方案非常适合威盛的商业模式,因此我们毫不犹豫地选择了科利登。”

科利登副总裁,诊断与特征分析产品部总经理Ofir Baharav说:“不断增加的复杂度和上市时间压力,以及更短的周期,是我们客户的一个巨大挑战。但是,他们现在可以不仅仅只依赖CAD工具在有限的时间内进行失效分析。我们期待能和威盛一起努力,为他们提供一种更加有效的系统的产品调试解决方案。”
 
  
  
  
  
 
更多>同类资讯
0相关评论
 
全年征稿 / 资讯合作
 
 
 
推荐资讯
可能喜欢