安捷伦参加国际无线会议 展示最新测试测量成果

   日期:2014-04-23     评论:0    
核心提示:日前,IEEE MTT-S(IEEE微波理论与技术分会)和中国电子学会微波分会,联合在西安举办了第二届“国际无线会议”(IEEE IWS 2014)。安捷伦科技作为本次会议的白金赞助商,携手合作伙伴准备了5大展台展出最新的测试测量解决方案,其还获得了陕西省副省长李金柱的莅临参观。展会同期,安捷伦举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”和“航空航天和国防电子测量技术讲座”,共吸引了近350人参加。
 日前,IEEE MTT-S(IEEE微波理论与技术分会)和中国电子学会微波分会,联合在西安举办了第二届“国际无线会议”(IEEE IWS 2014)。安捷伦科技作为本次会议的白金赞助商,携手合作伙伴准备了5大展台展出最新的测试测量解决方案,其还获得了陕西省副省长李金柱的莅临参观。展会同期,安捷伦举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”和“航空航天和国防电子测量技术讲座”,共吸引了近350人参加。

本次展会上,安捷伦科技展出了涵盖毫米波/T赫兹、雷达和电子战、复杂信号产生与分析、4G无线通信、进阶微波器件测试、高速数字电路分析等相关内容和产品。首次在国内展示了325GHz高精度频谱仪和信号源等样机和系统方案,为客户和业内专家展示了安捷伦领先的射频微波测试方案。

为了帮助国内客户深入了解微波器件特别是放大器变频器等有源器件的测试技术,安捷伦还在展会同期举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”。安捷伦的科学家结合现场实物测试演示,为专业客户进行了4小时的有源器件测试技术剖析,深入讲解了测量评估放大器和混频器等复杂有源微波源器件的最新技术、有效提高校准精度和测试效率的方法、夹具内测试精度优化技术以及大功率测试的优化方法等。

而在另一场同期举办的“航空航天和国防电子测量研讨会”上,安捷伦则与国内用户一起分享了目前的热点题目,内容涵盖了国防电子、雷达和电子战、微波和通信领域等共计10多个前沿课题。翔实的内容,专业的听众,深度的交流,为国内专业人士和国际顶级专家之间以及国内专业人士之间搭建了良好的学术和产业交流机会。

 
  
  
  
  
 
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