自动化测试从传统仪器向PXI平台的转型 开启未来测试之门

   日期:2015-07-07     评论:0    
核心提示:NI PXI平台和仪器研发副总裁Robert Canik指出,“更复杂化,更短时间,更高品质”正成为未来测试技术发展的重要趋势,摩尔定律、梅特卡夫定律、电池寿命、无线联通、传感器和执行器等五大物联网因素,都在推进一场测试测量的革命。

NI PXI平台和仪器研发副总裁Robert Canik指出,“更复杂化,更短时间,更高品质”正成为未来测试技术发展的重要趋势,摩尔定律、梅特卡夫定律、电池寿命、无线联通、传感器和执行器等五大物联网因素,都在推进一场测试测量的革命。

提高生产力,降低总体成本

创建于1997年的PXI平台,现在拥有超过60家供应商、2000多个模块,很多业内人士在过去的20年都见证了自动化测试从传统仪器向PXI平台的转变过程。NI大区销售经理徐山表示,一套测试系统的总花费包括开发部署和升级维护两个阶段,使用周期约在5-7年左右。在开发部署阶段,PXI平台方案和传统方案的成本可能相差无几,但到了升级维护阶段,无论是测试管理软件、融入最新技术、降低测试时间,还是开发测试代码、高级定时和同步、减少管理费用,PXI模块化平台精简、灵活、易升级的优势就逐步显露出来,而且时间越久,节省的成本越多。

源于数据采集的高性能PXI 平台模块包括电压、电流、温度、麦克风、力感应器、工业驱动器等,基于此,NI能够提供包括DAQ和控制、模块化仪器以及通信接口在内的广泛功能仪器组合。“CPU处理能力目前仍按照摩尔定律不断发展,这使得传统台式仪器与最新需求性能的差距越来越大,但PXI测试系统性能却是随着半导体器件性能的提升而提升的。”徐山说,从1997年基于英特尔Pentium 166 MHz CPU的PXI-8156,到2012年基于四核的PXIe-8135,再到最新的基于Intel Xeon E5-2618L v3处理器的NI PXIe-8880嵌入式控制器,NI PXI产品一直跟随者摩尔定律一起发展。

采用Intel Xeon处理技术被NI、Intel和咨询公司Frost&Sullivan视作一个新的物联网的里程碑。资料显示,PXIe-8880嵌入式控制器的主要特点包括2.3GHz(base)、3.4GHz(Turbo Boost)、8个物理CPU内核、16个逻辑CPU内核、基于Gen3技术的PXI Express传输总线、高达24GB/s系统带宽(每方向)等。此外,NI还推出了业界首款基于PCIe Gen3技术的全混合插槽PXI机箱—PXIe-1085 24GB/s机箱,该产品具备16混合插槽、1 PXIe系统时钟插槽和1系统插槽,可实现高达24GB/s的系统带宽(每方向)和高达8GB/s的每插槽带宽(每方向)。

测试测量软件labview在提高生产效率方面与硬件一样重要。徐山表示,用户只需将精力集中在代码测试和算法架构方面即可,其它如硬件抽象、IP集成、GUI开发、总线通信、API 开发等功能可直接交给LabVIEW完成。作为一台软件定义的仪器,PXI机箱内可插入嵌入式PXI控制器和PXI模块化仪器,各自完成运算、传输和输入输出的任务。很多仪器中还集成了可编程的FPGA用于二次开发,基于硬件实现用户自定义功能,可以使用LabVIEW参考架构编写复杂的语言。同时,由于具备100MHz差分时钟、100MHz同步时钟、10MHz时钟、星形总线触发和信号端触发,比起只有外部信号端触发和10MHz时钟的传统台式仪器,PXI仪器在定时和同步性能方面也更具优势。

 
标签: PXI 传感器 物联网
  
  
  
  
 
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