赛默飞世尔宣布推出新一代X射线检测系统

   日期:2011-07-29     来源:中国测控网    
核心提示:为了适应工业生产对于使用X射线类仪器检测外源性物质及一般性检测的需求,赛默飞世尔科技公司发布了XpertC400。

  近日赛默飞世尔科技发布了XpertC400。它是赛默飞世尔科技新一代X射线检测系统系列产品中的第一款,可用于污染物质检测及产品检验。现在市场急需使用X射线检测外源性物质或进行一般性的检测。很多主要的食品零售商都被要求在产品上架前必须使用X射线进行检验。例如GFSI(全球食品安全倡议)和美国食品安全现代法案都要求在食品检测中使用X射线技术代替金属探测法。

 为了适应工业生产对于使用X射线类仪器检测外源性物质及一般性检测的需求,赛默飞世尔科技公司发布了XpertC400,其具有极高的灵敏度和高耐受性的特点,满足了用户对检测标准的高要求。与此同时,XpertC400还可降低检测成本。

  XpertC400可以非常方便地检测金属、玻璃、高密度塑料等包装材料及包装食品中的其他污染物。它也可以通过分析X射线图像估计重量、填充和计数,或确认产品是否在包装内。该系统的高灵敏度检测器可以提供多种分辨率(0.8/0.4毫米)。它还有一整套的计算方法来判断复杂图像中异常点所代表的污染物。该系统采用低功耗的X射线源(85W),不仅降低了系统的屏蔽需求,而且在检验中也很容易穿透一些典型的被检产品。

 
  
  
  
  
 
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