“紫外显微测量系统”正式投入使用

   日期:2012-11-05    

  由中国科学院西安光学精密机械研究所检测中心自主研制的“紫外显微测量系统”近期通过验收并正式投入使用。该系统能够测量紫外、可见光学镜头焦距、色偏差、视场角,能自动测量畸变、弥散斑直径,主要技术指标:测量光谱范围:200~1000nm;畸变自动测量重复性0.1%;弥散斑直径自动测量重复性2.1%。

  

 

  设备使用时,只需通过事先规划和调整,并点击开始按钮,即可完成光学镜头畸变和弥散斑直径的自动测量。此设备集成了我所长期以来在光学镜头测试方面的工程经验,融合了畸变和弥散斑直径测量方面的成熟算法,简化了以往光学镜头测试对人工操作的依赖,实现了真正意义上的自动测量。

 
  
  
  
  
 
更多>同类企业资讯
 
全年征稿 / 资讯合作
 
 
 
推荐图文
推荐企业资讯
可能喜欢