日前宣布推出新的功能选件，旨在为 PNA 和 PNA-X 系列微波矢量网络分析仪(VNA)添加高性能频谱分析仪功能。作为业界首创，此功能选件可以将测试速度加快 10 到 500 倍。VNA 综合此功能后，即可在表征卫星设备、国防电子器件和商用无线器件中的 S 参数、压缩和失真之余，还执行高速杂散测量，从而简化系统连接，节省测量时间。
工程师在执行杂散测量时通常需要耗费大量时间，同时还面临着测试时间与测试范围之间的折中。利用新的高性能频谱分析仪功能，Keysight PNA 可以在宽广的频率范围内执行快速杂散搜索，测试吞吐量相比现有测量方法提升 500 倍。测量结果可以与当前最快、最复杂的独立频谱或信号分析仪相提并论。
VNA 还能够在所有测试端口上同时实施频谱测量。这种独一无二、业界领先的功能使分析仪只需连接一次便可表征混频器、转换器、放大器、模块或子系统，从而缩短设计周期。例如 LO、RF 和 IF 馈通测量;谐波测量;互调产物测量;以及其他高阶混频产物测量。
夹具中和晶圆上测量也可以从 VNA 校准和去嵌入(校正接收机响应误差，消除电缆和夹具影响)中受益――测试精度将会明显改善，从而实现更小的测试容限和更苛刻的器件技术指标。
是德科技元器件测试事业部 PNA 市场经理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一台仪器中执行高性能频谱和网络测量，可以为您提供无与伦比的洞察力来了解被测器件的特性。此创新还可以取代开关矩阵和独立的频谱分析仪，进而满足日益重要的、减小元器件表征测试系统体积的需求。”
每一台 Keysight VNA 都充分体现了是德科技在线性和非线性器件表征方面的专业水平。当您在研发实验室中和生产线上执行设计和测量时，PNA 系列的卓越性能能够为您带来前所未有的帮助。
