中科院射频识别技术测试相关PCT专利获美授权

2013-12-13 13:51 测控要闻   

导读随着RFID的应用规模越来越大,RFID天线和读写器的品种越来越多,为了在众多的RFID读写器和标签中选择最符合使用者需求的产品,需要对RFID 产品的性能指标进行专门的测试。  

近日,由中科院自动化研究所团队研发的Method and Apparatus for Testing the Performance of Radio Frequency Identification System(PCT专利号为PCT/CN2010/002054、美国专利号为13/143,041)在美国获得授权。该发明专利于2010年通过申请国际PCT途径,于2011年申请进入美国,并于近日获得授权。它是中科院自动化所首个通过国际PCT途径在美国获得授权的专利。

该发明专利是高速运动电子标签的射频应用系统性能的测试系统和方法,由读写器发射天线、频谱分析仪接收天线、待测电子标签、读写器天线支架、待测读写器、频谱分析仪、控制计算机、驱动电机控制器、驱动电机、转盘、防护罩、支撑台组成,其方法是通过驱动电机带动转盘,使固接在转盘上的待测电子标签以高速运动,利用电子标签在转盘切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度,从而科学的、可重复的对电子标签在高速运动状态下的RFID应用系统性能进行评价。

随着RFID的应用规模越来越大,RFID天线和读写器的品种越来越多,为了在众多的RFID读写器和标签中选择最符合使用者需求的产品,需要对RFID 产品的性能指标进行专门的测试。在智能停车场、高速公路不停车收费等实际应用中,RFID读写器和标签之间存在快速相对运动。传统高速运动状态下RFID 产品性能测试系统和方法存在占用空间大、建设成本高、实验过程不稳定等缺点。针对传统方法的缺点,该项专利提出的一种电子标签在高速运动状态下的RFID 应用系统性能基准测试系统及方法,该系统和方法能在测试过程中较好的还原真实测试场景。为使用者提供一种简单、明确、有效的自动化测试工具和基准测试方法,用以在可重复条件下快速评价电子标签处于高速运动状态应用场景中RFID应用系统性能,从而为使用者设备选型提供决策参考。

作为物联网的核心技术之一,RFID技术有广阔的应用前景和巨大的应用价值。RFID性能测试设备和技术能为用户设备选型提供决策参考,是RFID技术实际应用的基础。该项专利提出的系统及方法能够为用户提供一种简单、明确、有效的自动化测试方式。有助于提升我国在RFID领域自主创新能力,属于支撑我国高技术产业与新兴产业发展的技术领域。

该项专利已经在中国和美国都取得正式授权,从而增强了我国在RFID性能测试方面的竞争力,完善了我国RFID测试技术专利池,为将来参与RFID国际测试标准制定争取了更多话语权。

标签:  RFID[16]    测试技术[1]    新兴产业[1]
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