美国国家仪器(National Instruments，简称NI)今日发布了硬件加速的5G毫米波OTA验证测试参考架构，可对5G 毫米波波束成形AiP器件进行全面的特性分析和验证。
与传统的点对点软件控制测试系统相比，NI的毫米波OTA验证测试参考架构可在24 GHz到44 GHz的5G毫米波频段内快速扫描OTA空间，帮助用户显著缩短AiP器件的OTA射频验证测试时间。这一全新的参考架构使得正在研究最新5G AiP器件的特性分析和验证工程师能够利用更宽、更复杂的5G新空口信号研究其器件的波束成形性能，同时缩短开发周期。NI的快速OTA测试方法可帮助工程师使用更密集的空间网格并获得更精细的3D空间分辨率，同时维持较短的测试时间。此外，借助NI的毫米波OTA验证测试软件，验证工程师可以在生成、可视化、存储或发布详细的参数结果时快速配置这些空间扫描，以分析其器件的天线方向图特性。
“5G毫米波半导体产业发展迅速，测试系统需要为新的5G波束形成设备做好准备，” Anokiwave首席战略官Alastair Upton说道， “工程师将需要快速、准确且价格合理的工具来测量和确保器件的波束形成性能，以便下一代毫米波半导体能够在全球范围内充分发挥其潜力。”
NI的毫米波OTA验证测试参考架构由以下部分构成：
• NI毫米波VST，用于生成和测量宽带RF信号
• PXI仪器，用于实现可重复和精确的运动控制
• 隔离微波暗室，可在安静的环境中进行真正的远场辐射测试
• 毫米波OTA验证测试软件，实现交互使用和自动化
NI一直以来致力于不断扩大5G毫米波器件的测试范围，同时帮助用户降低测试成本和缩短上市时间，此次发布的毫米波OTA验证测试参考架构正是这一努力的最新成果。这一解决方案完善了NI模块化仪器产品系列和测量软件，可对最新的Sub-6 GHz至毫米波的最新5G RFIC器件进行特性分析和验证。
