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基于NI高性能SMU 博达微发布业界首创AI驱动的半导体参数一体化测试系统

NI亚太区副总裁Chandran Nair表示:“我们对于博达微科技利用NI最新 <span class="highlight">SMU</span> 开发出的智能参数测试方案 FS-P...
2018-02-01

吉时利推出面向源测量单元 (SMU) 仪器的首款免费应用程序

先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器日前宣布,开发了一款面向安卓智能手机和平板电脑(这些设备可通过其前面板USB接口与吉时利2600B系列...

吉时利发布最新2401型数字源表

2011年9月19日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司今天发布了专为低电压测试而优化的低成本方案,扩展了其广受工程师赞誉的2400...