研华科技，2014年6月 ——嵌入式测试测量技术，以敏捷开发和智能监诊技术提升生产测试效能
研华「嵌入式测试测量软件开发与智能监诊趋势论坛」，专注于软件开发、系统集成、项目规划，以嵌入式测试&测量技术，推动物联网下智能应用的新发展。研华将于2014年6月在北京、上海、深圳三大中心城市举办盛大的巡回研讨会，诚邀业界菁英拨冗参加，期待您的加入!
对于投身制造行业的您，无论是专注于软件开发、系统集成、亦或项目规划，都需了解，在物联网架构下，嵌入式测试测量技术已成为智能应用的利器，并可有效促进制造系统的智能化。如何运用该技术进行设备监诊及预防保养以提高机台生产效能;在测试测量软件开发方面，又有怎样的新发展……在这次论坛上，我们邀请了业界重量级嘉宾与您一起深入地探讨和分享，敬请期待。
北京报名链接：http://www.advantech.com.cn/SolutionDay/detail.aspx?EventID=HOST000578&pages=register
上海报名链接：
http://www.advantech.com.cn/SolutionDay/detail.aspx?EventID=HOST000572&pages=register
深圳报名链接：
http://www.advantech.com.cn/SolutionDay/detail.aspx?EventID=HOST000574&pages=register
首站北京6月24日 北京歌华开元大酒店
会议议题：
会议地址：北京歌华开元大酒店(北京朝阳区鼓楼外大街19号)
北京会场（北京歌华开元大酒店）地图
